三豐粗糙度儀能給出宏觀和微觀兩種特征的綜合結(jié)論
更新時間：2022-05-26
三豐粗糙度儀采用光譜共焦技術(shù)、機(jī)器視覺技術(shù)、激光CCD等*傳感器，配合自動化技術(shù)以及系統(tǒng)軟件，領(lǐng)略數(shù)控已經(jīng)開發(fā)出高清晰、非接觸式的精密測量設(shè)備。該設(shè)備既可以測量出宏觀的直線度、輪廓度等形位公差，也可以給出表面粗糙度值，也能給出宏觀和微觀兩種特征的綜合結(jié)論。
光譜共焦測量技術(shù)是通過分析不同波長的光在特定表面的聚焦位置以進(jìn)行高精度的尺寸測量和微觀形貌分析。表面粗糙度是用來表示零件表面微觀幾何形狀誤差的一個概念，微觀幾何形狀的誤差大小是以微米來表達(dá)的。
在測量和評定表面粗糙度時，需要確定取樣長度、評定長度、基準(zhǔn)線和評定參數(shù)。這有一套標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，取樣的數(shù)據(jù)用小二乘法找到中線，然后用統(tǒng)計的方法可以算出高度特征參數(shù)Ra，Rz，Ry等，間距特征參數(shù)S和Sm，形狀特征參數(shù)也就是輪廓支撐長度率tp。由于涉及制造成本，在實(shí)際應(yīng)用中需要合理的選擇參數(shù)類型以及參數(shù)值，表面粗糙度的參數(shù)設(shè)定需要慎重對待，否則會帶來不必要的成本增加。
一般情況下，當(dāng)粗糙度Ra≥0.008-0.02um時，取樣長度L取0.08mm，當(dāng)Ra＞0.02-0.1um時,取樣長度L取0.25mm，當(dāng)Ra＞0.1-2.0um時，取樣長度L取0.8mm，當(dāng)Ra＞2.0-10.0um時,取樣長度L取2.5mm，當(dāng)Ra＞10.0-80.0um時，取樣長度L取8.0mm，一般情況下是選5段取樣長度作為評定長度，這里可由用戶自己選定評定長度。
精密機(jī)械在追求精度、剛性、密封或者壽命的時候，如果標(biāo)注尺寸公差和形位公差，不能夠有效控制產(chǎn)品質(zhì)量，這時會需要進(jìn)一步控制零件的微觀幾何形狀誤差，也就是表面粗糙度，即要控制尺寸公差和形位公差又要控制表面粗糙度。表面越粗糙配合表面間的有效接觸面積越小，壓強(qiáng)越大，磨損就越快。粗糙零件的表面存在較大的波谷，它們像尖角缺口和裂紋一樣，對應(yīng)力集中很敏感，從而影響零件的疲勞強(qiáng)度。
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