美國Defelsko PosiTest機(jī)械測厚儀價格GM

美國Defelsko PosiTest F/FM/G/GM 涂層測厚儀，適用于測量油漆、搪瓷、塑膠、鍍鋅層、滲金、電鍍等涂層厚度。

美國Defelsko PosiTest機(jī)械測厚儀價格GM產(chǎn)品圖片：

產(chǎn)品名稱：機(jī)械涂層測厚儀

型號：POSITEST G/F

Defelsko公司研制的PosiTest F/G 機(jī)械涂層測厚儀可無損測量鋼材上的非磁性涂層, 如油漆、搪瓷、塑膠、鍍鋅層、滲金、電鍍等.

DeFelsko POSITEST G/F機(jī)械涂層測厚儀特點

--每個測厚儀均帶可溯源至美國IST的校準(zhǔn)證明

--每個型號均可與校驗標(biāo)準(zhǔn)和程序匹配

--高耐磨硬質(zhì)合金探頭利于使用壽命的優(yōu)化和持久性

--刻度盤的可調(diào) 使校正調(diào)整變得簡單方便

--符合國際和國內(nèi)測試標(biāo)準(zhǔn)

美國Defelsko PosiTest機(jī)械測厚儀價格GM耐用

--的紋理外殼, 無懼機(jī)械沖擊, 水, 酸或溶劑

--*整體設(shè)計,充分支承, 強(qiáng)制定位,測量過程中無旋轉(zhuǎn)移動可能

--選擇充分支承測量或僅使用前測量臂的探頭接觸涂層測量均可

--稀土鈷磁鋼的持久磁性, 無需電池

--防爆，的安全性

--1年保障

使用簡便

--設(shè)有直觀提示和聲音提示, 提醒測量完畢

--“V” 形槽的探頭外殼設(shè)計和*的儀器機(jī)座, 便于在圓柱形樣品上的定位和測量

--精湊, 輕便, 的平衡性, 不受地心吸力(重力)影響，可在任何地方使用

--GO / O-GO(啟動 / 禁動) 按鈕可預(yù)設(shè)以備快速測量

--探頭放置和轉(zhuǎn)盤旋轉(zhuǎn)僅需一指操作

--附帶的腕帶和說明書置于高質(zhì)皮革盒內(nèi)備用

DeFelsko POSITEST G/F機(jī)械涂層測厚儀參數(shù)

F型（F，F(xiàn)M）

G型（G，GM）
用于:熱鍍鋅,滲硬鉻,油漆,搪瓷,塑膠涂層在鋼鐵上的測量
用于:電鍍,薄漆膜,磷化膜在鋼鐵上的測量
測量范圍FM：0~80mil
測量范圍GM：0~8mils+
精度FM：±0.2 mils（4mils內(nèi)）
±5%的讀數(shù) （超過4mils時）
精度GM: 0.04mils （0.8mils以內(nèi)）
±5%的讀數(shù) （超過0.8mils時）
測量范圍F：0~2000μm
測量范圍G：0~200μm
精度F：±5μm (100μm內(nèi))
±5%的讀數(shù) （超過100μm時）
精度F：± 1μm（20μm以內(nèi)）
±5%的讀數(shù) （超過20μm時）

精確：

--每個測厚儀均帶可溯源至美國IST的校準(zhǔn)證明

--每個型號均可與校驗標(biāo)準(zhǔn)和程序匹配

--高耐磨硬質(zhì)合金探頭利于使用壽命保證優(yōu)良精度的持久性

--刻度盤的可調(diào)中心使校正調(diào)整變得簡單方便

--符合國際和國內(nèi)測試標(biāo)準(zhǔn)

耐用：

--特別的紋理外殼, 無懼機(jī)械沖擊, 水, 酸或溶劑

--*整體設(shè)計,充分支承, 強(qiáng)制定位,測量過程中無旋轉(zhuǎn)移動可能

--選擇充分支承測量或僅使用前測量臂的探頭接觸涂層測量均可

--稀土鈷磁鋼的持久磁性, 無需電池

--防爆，的安全性

--1年保證

使用簡便：

--設(shè)有直觀提示和聲音提示, 提醒測量完畢

--“V” 形槽的探頭外殼設(shè)計和*的儀器機(jī)座, 便于在圓柱形樣品上的定位和測量

--精湊, 輕便, 精確的平衡性, 不受地心吸力(重力)影響，可在任何地方使用

--GO/O-GO(啟動/禁動) 按鈕可預(yù)設(shè)以備快速測量

--探頭放置和轉(zhuǎn)盤旋轉(zhuǎn)僅需一指操作

--附帶的腕帶和說明書置于高質(zhì)皮革盒內(nèi)備用

美國Defelsko PosiTest機(jī)械測厚儀價格GM技術(shù)參數(shù)：

[熱鍍鋅, 滲硬鉻, 油漆, 鋼鐵上的搪瓷]     [熱鍍鋅, 滲硬鉻, 油漆, 鋼鐵上的搪瓷]

用途：熱鍍鋅, 滲硬鉻, 油漆, 鋼鐵上的搪瓷

測量范圍FM：0~80mil

精度FM：±0.2 mils(4mils內(nèi))

±5%的讀數(shù) (超過4mils時)

測量范圍F：0~2000µm

精度F：±5µm (100µm內(nèi))

±5%的讀數(shù) (超過100µm時)